Mikroskop atomowy

Pełna nazwa to mikroskop sił atomowych, w skrócie AFM. Jest to mikroskop, który skanuje sondą. Dzięki temu możliwe jest uzyskiwanie obrazu powierzchni ze zdolnością rozdzielczą rzędu pojedynczego atomu poprzez siły oddziaływania międzyatomowego poprzez przemianę ostrza nad lub pod powierzchnią danej próbki. Mikroskop ten został wymyślony i skonstruowany przez Binninga, Quate’a i Gerbera pod koniec lat dziewięćdziesiątych dwudziestego wieku. Przede wszystkim stosowane są one do mikroskopowych map dla opisywania ukształtowania powierzchni i jej właściwości.